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Analytische Elektronenmikroskopie

Ansprechpartner: Dr Alexandra Jung
 
Dieses Labor ist eine gemeinsame Einrichtung aller Arbeitsgruppen des Instituts für Technische Physik. Es dient zur Materialcharakterisierung auf der Nanometerskala hinsichtlich
  • Topographie
  • Chemische Analyse
  • Orientierungsstereologie
Geräte bzw. Methoden:
  • Hochauflösendes (~ 1nm) Schottky-Feldemissions- Rasterelektronenmikroskop
    (LEO 1530 )
  • Energiedispersive Röntgenmikroanalyse ("EDX")
    ( VANTAGE / ThermoNORAN )
  • Backscatter Kikuchi diffraction - Technik ("EBSD")
    (HKL Technology)
Aktuelle Untersuchungen:
  • Hoch-Tc-Supraleiter für die Grundlagenforschung (YBCO-, Nd-123 - Einkristalle,...)
  • MgB2: Ein neuer Supraleiter für innovative Technologien
  • Klassische Supraleiter (Nb3Sn) sowie Strukturwerkstoffe (Stähle) für Anwendungen in der Magnet- und Energietechnik
  • Substratbänder aus Ni und Ni-Legierungen als Teil zukünftiger YBCO-Bandleiter
  • Neuartige, nanoskalige Bauelemente für die Einzelladungselektronik